巖芯CT掃描服務(wù)-為巖芯樣品提供先進(jìn)的數(shù)字化CT掃描技術(shù)
巖芯CT掃描技術(shù)是一種非侵入性的地質(zhì)勘探方法,它利用電子計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)設(shè)備對(duì)巖心進(jìn)行掃描,從而獲取巖心的微尺度三維內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像。這種技術(shù)不僅能夠?qū)崿F(xiàn)巖石微觀結(jié)構(gòu)的三維可視化和精細(xì)化定量表征,而且通過引入形態(tài)學(xué)與統(tǒng)計(jì)學(xué)參數(shù)(孔隙分形維數(shù)、形狀系數(shù)和定向因子),可以更全面地反映孔隙特征。此外,巖心CT掃描技術(shù)在掃描完成后,可以將巖樣數(shù)字化,永久地存在電腦中,供隨時(shí)調(diào)取分析,節(jié)省了大量的測(cè)試時(shí)間和測(cè)樣成本。這種技術(shù)被廣泛應(yīng)用于地質(zhì)探礦、油氣勘探和環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。本文將詳細(xì)介紹巖芯CT掃描的原理、優(yōu)勢(shì)和應(yīng)用,并解析該技術(shù)在地質(zhì)研究中的重要價(jià)值。
巖芯CT掃描原理:
巖芯CT掃描技術(shù)是一種基于X射線成像的無損檢測(cè)方法。巖芯樣本被放置在X射線束中,接收器接收到成像層面上的X射線,通過計(jì)算機(jī)處理形成二維或三維的立體圖像。巖芯樣本的密度和材料成分會(huì)影響X射線的吸收,因此可以根據(jù)X射線的強(qiáng)度和成像信號(hào)的差異,獲得地層結(jié)構(gòu)信息。巖芯CT掃描技術(shù)具有非破壞性、高分辨率、快速成像等優(yōu)勢(shì),可以提高地質(zhì)勘探的成功率和效率。
巖芯CT掃描優(yōu)勢(shì):
巖芯CT掃描技術(shù)的優(yōu)勢(shì)在于其提供的高分辨率三維圖像可以清晰地展示地層的內(nèi)部結(jié)構(gòu),不僅可以確定各種巖石的物理特性,還可以揭示巖石的結(jié)晶方式和變質(zhì)作用等信息。此外,這項(xiàng)技術(shù)不會(huì)對(duì)地質(zhì)樣本造成任何損壞,從而確保了樣本的完整性。
巖芯CT掃描應(yīng)用:
在實(shí)際應(yīng)用中,巖芯CT掃描技術(shù)在石油和天然氣勘探中的應(yīng)用十分廣泛。例如,它可以提供地層巖石的孔隙度、孔徑和滲透率等信息,為儲(chǔ)油層和儲(chǔ)氣層的選址提供可靠的數(shù)據(jù)支持。在礦產(chǎn)勘探中,巖芯CT掃描技術(shù)可以揭示礦物的粒度、晶體數(shù)量和顆粒度等特征,幫助礦物學(xué)家確定礦床類型和顯示成礦過程。此外,該技術(shù)也被廣泛應(yīng)用于地質(zhì)工程、環(huán)境保護(hù)和文物保護(hù)等領(lǐng)域。
巖芯CT掃描檢測(cè)范圍:
1、小于2mm樣品高分辨率亞微米級(jí)別CT掃描;
2、標(biāo)準(zhǔn)25.4mm巖心高達(dá)8微米高分辨率CT掃描;
3、50mm巖心<30μm空間分辨率CT掃描;
4、100mm-150mm全直徑巖心微觀CT掃描;
5、更大尺寸樣品CT掃描,空間分辨率優(yōu)于140μm;
巖芯CT掃描檢測(cè)原理:
射線透過材料后會(huì)發(fā)生衰減。根據(jù)衰減程度的不同,進(jìn)行二維X-ray成像。通過對(duì)樣品進(jìn)行360°掃描,獲得一系列二維X-ray投影圖像,并進(jìn)行重建,得到巖石樣品的三維模型。
工業(yè)CT掃描巖心,通過對(duì)巖石內(nèi)部不同成分的原子序數(shù)和密度的差異進(jìn)行分析,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)內(nèi)部組分(如孔隙、干酪根、粘土成分、巖石顆粒、方解石、鐵礦石等礦物)的三維立體成像,并展示在不同位置的任意切面。這些檢測(cè)數(shù)據(jù)在實(shí)驗(yàn)室經(jīng)過分析后,對(duì)石油地質(zhì)等領(lǐng)域有重要的參考價(jià)值。這項(xiàng)技術(shù)對(duì)于古生物化石也有著巨大的利用價(jià)值,實(shí)驗(yàn)室的工程師在與各大科研機(jī)構(gòu)長(zhǎng)期合作中已積累了豐富的大型項(xiàng)目操作經(jīng)驗(yàn)。
總的來說,巖心CT掃描技術(shù)是一種高效、快速、易于計(jì)算的無損檢測(cè)方法,它在地質(zhì)研究和油氣田開發(fā)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。
華南檢測(cè)技術(shù)檢測(cè)電話:13926867016,工業(yè)CT 檢測(cè)、失效分析、材料分析檢測(cè)、芯片鑒定、DPA分析、芯片線路修改、晶圓微結(jié)構(gòu)分析、可靠性檢測(cè)、逆向工程、微納米測(cè)量等專業(yè)技術(shù)測(cè)服務(wù),歡迎前來咨詢了解。
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