電容失效分析
材料老化:電容器內(nèi)部使用的絕緣材料和電極材料會(huì)隨著時(shí)間老化,導(dǎo)致性能下降。
溫度影響:高溫會(huì)加速電容器內(nèi)部材料的老化過程,降低其使用壽命。
電壓應(yīng)力:長期工作在高電壓下,電容器可能會(huì)因電壓應(yīng)力而損壞。
機(jī)械應(yīng)力:機(jī)械振動(dòng)或沖擊可能導(dǎo)致電容器內(nèi)部結(jié)構(gòu)損壞。
環(huán)境因素:如濕度、腐蝕性氣體等環(huán)境因素也會(huì)影響電容器的性能。
設(shè)計(jì)缺陷:電容器設(shè)計(jì)不當(dāng),如電極間距過小,也可能導(dǎo)致早期失效。
制造缺陷:生產(chǎn)過程中的缺陷,如雜質(zhì)、氣泡等,可能導(dǎo)致電容器性能不穩(wěn)定。
故障檢測(cè):通過電學(xué)測(cè)試發(fā)現(xiàn)電容器的異常表現(xiàn)。
失效模式識(shí)別:確定電容器失效的具體形式,如擊穿、漏電等。
原因分析:通過顯微鏡檢查、化學(xué)分析等手段找出失效的根本原因。
改進(jìn)措施:根據(jù)分析結(jié)果,對(duì)電容器的設(shè)計(jì)、材料選擇或生產(chǎn)工藝進(jìn)行改進(jìn)。
一、電容失效分析案例背景
某電容,在30V直流電壓下,電容值衰減超過70%,現(xiàn)需分析其失效的原因。
二、電容失效分析過程
1、外觀檢查
1#樣品外觀圖
2#樣品外觀圖
說明:光學(xué)顯微鏡檢查表面未見明顯異常。
2、CT掃描分析
1#樣品CT掃描形貌圖
說明:CT掃描檢查結(jié)果未發(fā)現(xiàn)明顯缺陷。
3、C-V曲線測(cè)試
1#樣品CV測(cè)試結(jié)果
2#樣品CV測(cè)試結(jié)果
說明:測(cè)試結(jié)果說明:1#樣品C30V=0.44~0.50uF,2#樣品C30V=0.43~0.44uF.
4、切片檢查
1#樣品SEM圖
2#樣品SEM圖
說明:將1#樣品和2#樣品分別切片,然后在金相顯微鏡下放大拍照觀察 MLCC內(nèi)部結(jié)構(gòu),1#樣品電容內(nèi)部存在鎳瘤及熱應(yīng)力裂紋,2#樣品未見異常。
5、EDS成分分析
1#樣品EDS元素分析譜圖
2#樣品EDS元素分析譜圖
說明:通過對(duì)樣品剖面 SEM/EDS 分析, 1#樣品電容內(nèi)部電極層不連續(xù),存在明顯鎳瘤;其鎳瘤周圍多條向外延伸裂紋并在裂縫通道內(nèi)發(fā)現(xiàn)明顯碳化痕跡,此為熱應(yīng)力裂紋裂紋的存在直接導(dǎo)致電容性能異常;而2#樣品電容內(nèi)部電極層連續(xù)陶瓷介質(zhì)層致密未發(fā)現(xiàn)孔洞及鎳瘤,電容性能良好。
三、電容失效分析結(jié)論
綜合測(cè)試分析可知,導(dǎo)致產(chǎn)品測(cè)試異常的原因?yàn)椋弘娙荼旧碣|(zhì)量問題,其內(nèi)部存在鎳瘤,鎳瘤的存在使熱應(yīng)力裂紋的萌生產(chǎn)生了可能。
四、電容失效分析建議
對(duì) MLCC 每批來料進(jìn)行抽檢做切片分析,觀察其內(nèi)部結(jié)構(gòu)是否存在來料不良問題。
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