實驗室儀器該如何校準?
標準文件中關于校準周期如何解釋?
CNAS-CL01:2018中7.8.4.3校準證書或校準標簽不應包含校準周期的建議,除非已與客戶達成協議。明確規定校準實驗室不能給出校準周期的建議。校準周期由實驗室根據計量器具的實際使用情況,本著科學、經濟和量值準確的原則自行確定。期間需安排期間核查,如果發現不穩定情況,就需重新校準。
確定校準周期的依據
先說校準周期,也就是確認間隔,它是衡量計量工作質量的關鍵環節,關系到在用測量儀器的合格率。只有嚴格執行校準周期,才能保證科研生產等各項活動的順利進行。為保證量值準確可靠,必須科學的確定校準周期。
校準周期不合理會怎樣?
隨著時間的推移,測量儀器的校準周期是否合理,取決于校準合格率,也取決于儀器的歷史校準記錄,可將其作為最基本的依據。但隨著時間的變化或是操作環境的變化,或者是測量儀器使用方式和條件的變化,可能導致儀器失準。因此,當測量儀器的一個校準周期過后,就該立即校準。另外,在有效校準期內,也應不定期抽查儀器偏離的狀態。根據上述信息對校準周期做適當調整,適當延長或縮短校準周期。
確定校準周期的原則
確定校準周期必須遵循兩條對立的基本原則:
一是在這個周期內測量儀器超出允許誤差的風險盡可能最小;
二是經濟合理,使校準費用盡可能最少。為了尋求上述風險和費用兩者平衡的最佳值,必須使用科學的方法,積累大量的實驗數據,經分析研究后確定。
必須按照校準規程規定的周期進行校準嗎?
用戶的使用情況是千差萬別的,若不加區別的一律機械的按照校準規程規定的周期進行校準,很難保證所有的測量儀器在校準周期內都是合格的。因此,必須按照測量儀器的實際使用情況確定校準周期。但是,由于實際情況相當復雜,要絕對正確確定校準周期,是難以辦到的,只能要求大體上正確、合理,使實際情況更加完善、科學,更加經濟合理。
注意哦:盲目的縮短校準周期將造成社會資源的浪費,對測量儀器的壽命、準確度及生產和人力也將帶來不利影響。而單純由于資金缺乏或人員不夠而延長校準周期將是十分危險的,可能由于使用不準確的測量儀器帶來更大的風險甚至嚴重的后果。
確定校準周期的依據
校準周期的確定需要各種專業知識,考慮多種因素。若超過一個周期,可能引起質量特性的惡化,那是由于機械磨損、灰塵、性能和實驗頻次等所致。對這些因素變化的敏感性取決于測量儀器的類型。質量好的,可能受的影響小一些;質量不好的,可能受的影響大一些。因此,各個實驗室應根據實際情況,確定每種測量儀器的校準周期。
確定校準周期的依據是:
使用的頻繁程度。使用頻繁的測量儀器,容易使其計量性能降低,故可以縮短校準周期來解決。當然,提高測量儀器所用的原材料性質、制造工藝和使用壽命也是重要的手段。
測量準確度的要求。要求準確度高的單位,可適當縮短校準周期。各個單位要根據自己的實際情況決定,需要什么準確度等級,就選擇什么等級。該高就高,該低就低,不盲目追求高準確度,以免造成不必要的損失;但精度過低,滿足不了使用要求,給工作帶來損失,也是不可取的。
使用單位的維護保養能力,如果單位的維護保養比較好,則適當縮短校準周期;反之,則長一些。測量儀器的性能,特別是長期穩定性和可靠性的水平。即使同類型的測量儀器,穩定性、可靠性差的,校準周期應短一些。對產品質量關系較大的,以及有特殊要求的測量儀器,其校準周期則相對短一些;反之,則長一些。
如何科學地確定校準周期?
統計法:根據測量儀器的結構、預期可靠性和穩定性的相似情況,將測量儀器初步分組,然后根據一般的常規知識初步確定各組儀器的校準周期。對每一組測量儀器,統計在規定周期內超差或其他不合格的數目,計算在給定的周期內,這些儀器與該組合格儀器總數之比。在確定不合格測量儀器時,應排除明顯損壞或由用戶因可疑或缺陷而返回的儀器。如果不合格儀器所占的比例很高,應縮短校準周期。
如果證明不合格儀器所占的比例很低,則延長校準周期可能是經濟合理的。如果發現某一分組的儀器(或某一廠家制造的或某一型號)不能和組內其他儀器一樣工作時,應將該組劃為具有不同周期的其他組。
小時時間法:這種方法是確認校準周期以實際工作的小時數表示。可以將測量儀器與計時指示器相連,當指示器達到規定值時,將該儀器送回校準。這種方法在理論上的主要優點是,進行確認的儀器數目和確認費用與使用的時間成正比,此外可自動核對儀器的使用時間。例如我們使用某公司的示波器,不用連接計時器,可以直接在示波器上查到連續使用了多長時間,很方便管理。但是,這種方法在實踐中有下列缺點:
(1)當測量儀器在儲存、搬運或其他情況發生漂移或損壞時,則不應使用本方法;
(2)提供和安裝合適的計時器,起點費用高,而且由于可能受到使用者干擾而需要在監督下進行,又增加了費用。
比較法:當每臺測量儀器按規定的的校準周期進行校準,將校準數據和前幾次的校準數據相比,如果連續幾個周期的校準結果均在規定的允許范圍內,則可以延長它的校準周期;如果發現超出允許的范圍,則應縮短該儀器的校準周期。
圖表法:測量儀器在每次校準中,選擇有代表性的同一校準點,將它們的校準結果按時間描點,畫成曲線,根據這些曲線計算出該儀器一個或幾個校準周期內的有效漂移量,從這些圖表的數據中,可推算出最佳的校準周期。
熱門資訊
最新資訊
- 環境可靠性測試哪家好?華南檢測為您揭秘產品品質提升秘籍
- 瓷片電容失效分析:從裂紋到擊穿,第三方檢測機構的解決方案
- 碳鋼棒異常斷裂案例分析
- PCB失效分析:深度解析潤濕不良、爆板、分層與CAF問題
- MLCC電應力擊穿失效分析:深度解析與可靠性提升方案
- 螺釘斷裂原因深度剖析與預防全解析(華南檢測案例)
- PCB焊接不良的原因及解決辦法全解析
- 機械沖擊試驗全解析:如何提升產品抗沖擊能力?| 華南檢測權威指南
- 工業CT掃描如何幫企業年省百萬?0.5μm精度+CMA/CNAS資質,華南檢測助企業降本50%
- 0.5μm誤差毀百萬訂單?鍍層厚度檢測標準與方法全解析
- 華南檢測:PCB切片分析專家,15年護航電子制造品質,助力企業年省千萬級質量成本
- PCB切片檢測:精準診斷電路板質量的核心技術
- 掃描電鏡分析:微觀世界的精準解碼與工業難題的終極方案
- 金屬成分檢測全解析:從技術手段到行業應用,助力制造業質量升級
- 連接器可靠性測試全解析:確保電子設備穩定運行的關鍵驗證
- 芯片開蓋分析:解密IC芯片失效的核心技術與華南檢測的專業優勢
- 元器件可靠性檢測:破解行業痛點,賦能產品質量升級
- 溫度循環試驗服務:為您的產品可靠性保駕護航
- 工業CT掃描技術:如何幫助企業提升產品質量?
- BGA虛焊問題深度解析與高效檢測方案——華南檢測技術助力電子制造可靠性提升