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FTIR在元器件假冒翻新鑒定中的應用

電子元器件市場魚龍混雜，對于元器件采購來說，最怕的就是買到假貨。說到元器件的真假，無非就是需要辨別一下，元器件是原裝貨還是散新貨。這里所說的散新貨，就是翻新件或是拆機件，是經過處理再加工的器件，所以行業人一般稱之為散新貨。同一樣的價格，誰都想買到新的，全新功能的器件，所以這就需要一些常識來辨別哪些是原裝新貨。如果同一塊板子，一模一樣的電路，焊接完之后，卻有不同的上電現象和效果，那可能就是采購的這批貨有問題。

本文主要針對FTIR顯微紅外光譜技術在元器件假冒翻新鑒定中的應用作簡要淺析，FTIR顯微紅外光譜分析是顯微分析和紅外光譜分析結合在一起的分析方法，它利用不同材料（主要指有機物和大部分無機化合物）對紅外光譜的不同吸收原理，結合顯微放大找出污染物的位置和形貌，分析污染物的化學成分。FTIR顯微紅外光譜技術在眾多領域有廣泛應用，如電子電路、光學顯示和成像、醫藥研制、物證鑒定、生命科學，食品安全等領域，發揮重要的作用。

首先，我們介紹一下紅外光譜基礎理論知識。

一）光的分布

光的波長分布如圖1，其中紅外光波長在10-6～10-3 m之間。

二）紅外光譜產生原理

根據物理化學基本概念，分子是運動的，當物質的分子在接收到紅外光時，分子會發生對光能量的吸收，分子獲得能量后產生不同的效應：a)電子激發、b)分子振動、c)分子轉動，不同效應對應不同范圍的分子光譜。

三） 紅外譜圖解析

1、特征峰

分子中某一特定基團的某一振動方式其頻率總是出現在有相對窄的區域，而分子的剩余部分對其影響較小。在不同分子中該基團振動頻率基本上是相同的，這種可用于鑒定基團存在，具有一定強度的吸收峰稱為特征峰，其所在位置稱為基團特征頻率。

例如： -CH3， -CH2 的伸縮振動頻率在3000 cm-1～2800cm-1范圍，

C=O 的伸縮振動頻率在1800 cm-1～1650 cm-1 范圍。

2、相關峰

一組具有相互依存關系的特征峰。

例如：-CH=CH2 的ν= CH2 ～3085 cm-1

νC= C 1680 cm-1～1620 cm-1

當分子結構變復雜時，分子間的相互作用也越來越復雜，所以也將產生更復雜的光譜圖，一般若需要對一張未知物成分譜圖進行特征峰判別鑒定，需要具備專業的有機化學基礎和紅外光譜特征基團知識儲備，本文不作這部分的詳細闡述。

常見的FTIR顯微紅外光譜分析儀出廠自帶基礎物質譜圖數據庫，而設備使用方可以自建本地數據庫，根據自身需求，用已知物質制作標準譜圖建數據庫；對未知物質進行鑒定時，可以拉出本地自建數據庫進行檢索，快速對未知物質進行判別。

舉例，某款芯片做假冒翻新鑒定，對芯片側面透明殘留物進行紅外光譜檢測，檢測結果殘留物為松香(助焊劑)，匹配度達96.19%，證明該芯片有被使用過，非全新芯片

測試儀器：傅里葉紅外光譜儀 ThermoFisher Nicolet iN10

本文對紅外光譜基礎理論、FTIR顯微紅外光譜技術元器件假冒翻新鑒定應用兩個方面進行了簡單介紹，并結合典型案例闡述了該方法，希望能讓讀者對FTIR紅外光譜技術和其在元器件假冒翻新鑒定領域的應用有所了解。

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