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SEM-EDS分析（掃描電鏡-能譜分析介紹）
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SEM-EDS分析結合了掃描電子顯微鏡（SEM）和能量色散X射線光譜（EDS）技術。 SEM通過高能電子束掃描樣品表面，生成高分辨率的圖像，揭示樣品的微觀形貌。 EDS則通過檢測樣品發射的特征X射線，確定其元素組成和相對含量。 兩者結合，能夠提供樣品的詳細形貌和化學成分信息。 | 
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SEM掃描電鏡檢測示例
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EDS能譜分析示例
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SEM/EDS設備展示
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SEM-EDS分析服務
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微觀形貌觀察：高分辨率成像，揭示樣品表面的細節。
元素成分分析：精確檢測樣品中的元素種類和含量。
缺陷與故障分析：識別材料中的缺陷和故障點，幫助改進工藝和產品質量。
SEM/EDS分析手段————————————————————————————————————————————————————
主要用于無機材料微結構與微區組成的分析和研究，儀器的功能包括：
（1）電子衍射：選區衍射、微束衍射、會聚束衍射；
（2）成像：明場像（BF）、暗場像（DF）、衍射像、高分辨像(HREM)、掃描透射像，環角暗場像（HAADF）；
（3）微區成分：EDS能譜的點、線和面分析；
SEM/EDS應用范圍
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材料科學：研究材料的微觀結構和成分，優化材料性能。
電子元件：檢測電子元件的焊接質量和故障分析。
材料范圍：除磁性材料之外的任何無機材料，包括粉體、薄膜和塊材；不適用于有機和生物材料。
表征范圍：微觀形貌、顆粒尺寸、微區組成、元素分布、元素價態和化學鍵、晶體結構、相組成、結構缺陷、
晶界結構和組成等。
送樣須知
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粉末樣品基本要求
1、單顆粉末尺寸最好小于1μm；
2、無磁性；
3、以無機成分為主，否則會造成電鏡嚴重的污染，高壓跳掉，甚至擊壞高壓槍；
塊狀樣品基本要求
1、需要電解減薄或離子減薄，獲得幾十納米的薄區才能觀察；
2、如晶粒尺寸小于1μm，也可用破碎等機械方法制成粉末來觀察；
3、無磁性；
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設立專業的實驗室數十個，涉及領域廣
設立了無損檢測、掃描電鏡儀器分析、化學分析、物理分析、切片與金相測試，環境 可靠性測試等眾多實驗室，為您提供—站式材料檢測，失效分析及檢測報告。 |
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24小時提供服務，讓產品檢測/分析更高效
24小時服務，讓您的產品擁有更快的檢測速度；為您解決產品在研發、生產、貿易過 程中產生與材料相關的各種問題，讓您的產品更快的走進市場。 |
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配備十多年行業經驗的檢測團隊為您服務
實驗室以中科院自動化研究所、北京航天航空大學為依托，以具備豐富產業經驗的本 地團隊為主體，開展電子可靠性前沿基礎研究、應用推廣、失效分析、設計改善，提 升粵港澳大灣區電子產業可靠性水平。 |
