專注于工業(yè)CT檢測(cè)\失效分析\材料檢測(cè)分析的第三方實(shí)驗(yàn)室
公正高效 \ 精準(zhǔn)可靠 \ 費(fèi)用合理
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掃描電鏡SEM檢測(cè)
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掃描電子顯微鏡是目前常見(jiàn)的用于表面形貌觀察的分析技術(shù)。具有高分辨率，較高的放大倍數(shù)；景深效果好，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；試樣制備簡(jiǎn)單；配有X射線能譜儀裝置，可同時(shí)進(jìn)行形貌觀察和微區(qū)成分分析。 通過(guò)掃描電子顯微鏡觀察材料表面形貌，為研究樣品形態(tài)結(jié)構(gòu)提供了便利，有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量，改善工藝。 觀察的主要內(nèi)容是分析材料的幾何形貌、材料的顆粒度、及顆粒度的分布、物相的結(jié)構(gòu)等。 |   |
SEM電鏡測(cè)試應(yīng)用范圍
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主要用于復(fù)合材料、陶瓷材料、金屬材料、高分子材料、生物材料、電子材料等塊體、片狀、薄膜樣品的微觀形貌分析及其成份的定性、半定量分析。
（1）材料范圍：除磁性材料之外的任何無(wú)機(jī)材料，包括粉體、薄膜和塊材；不適用于有機(jī)和生物材料。
（2）表征范圍：微觀形貌、顆粒尺寸、微區(qū)組成、元素分布、元素價(jià)態(tài)和化學(xué)鍵、晶體結(jié)構(gòu)、相組成、結(jié)構(gòu)缺陷、晶界結(jié)構(gòu)和組成等。
SEM掃描電鏡檢測(cè)示例
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SEM/EDS設(shè)備展示
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送樣須知
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粉末樣品基本要求
（1）單顆粉末尺寸建議小于1μm；
（2）無(wú)磁性；
（3）以無(wú)機(jī)成分為主，否則會(huì)造成電鏡嚴(yán)重的污染，高壓跳掉，甚至擊壞高壓槍；
塊狀樣品基本要求
（1）需要電解減薄或離子減薄，獲得幾十納米的薄區(qū)才能觀察；
（2）如晶粒尺寸小于1μm，也可用破碎等機(jī)械方法制成粉末來(lái)觀察；
（3）無(wú)磁性；
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設(shè)立專業(yè)的實(shí)驗(yàn)室數(shù)十個(gè)，檢測(cè)項(xiàng)目全
設(shè)立了無(wú)損檢測(cè)、掃描電鏡儀器分析、化學(xué)分析、物理分析、切片與金相測(cè)試，環(huán)境 可靠性測(cè)試等眾多實(shí)驗(yàn)室，為您提供—站式材料檢測(cè)，失效分析及檢測(cè)報(bào)告。 |
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擁有價(jià)值千萬(wàn)進(jìn)口檢測(cè)設(shè)備，讓產(chǎn)品檢測(cè)/分析更高效
24小時(shí)服務(wù)，讓您的產(chǎn)品擁有更快的檢測(cè)速度；為您解決產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)、貿(mào)易過(guò) 程中產(chǎn)生與材料相關(guān)的各種問(wèn)題，讓您的產(chǎn)品更快的走進(jìn)市場(chǎng)。 |
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配備10+年經(jīng)驗(yàn)的碩博檢測(cè)團(tuán)隊(duì)為您服務(wù)
實(shí)驗(yàn)室以中科院自動(dòng)化研究所、北京航天航空大學(xué)為依托，以具備豐富產(chǎn)業(yè)經(jīng)驗(yàn)的本 地團(tuán)隊(duì)為主體，開(kāi)展電子可靠性前沿基礎(chǔ)研究、應(yīng)用推廣、失效分析、設(shè)計(jì)改善，提 升粵港澳大灣區(qū)電子產(chǎn)業(yè)可靠性水平。 |
