
無損檢測是指在不損害被檢測對象使用性能,不傷害被檢測對象內(nèi)部組織的前提下,利用材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)異常或缺陷存在引起的熱、聲、光、電、磁等反 應(yīng)的變化,對試件內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)及缺陷的類型、數(shù)量、形狀、位置、尺寸進行檢查和測試的方法。 無損檢測的意義 在不破壞被測對象的情況下,通過測量上述變化來幫助企業(yè)更全面、直接和深入的了解評價被檢測的材料和設(shè)備構(gòu)件的性質(zhì)、狀態(tài)、質(zhì)量或內(nèi)部結(jié)構(gòu)等實際狀況,有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量,改善工藝。 |
PCB&PCBA、FPC、電子電器、電子元器件、塑膠材料、汽車材料及零部件、醫(yī)療器械、院校/科研產(chǎn)品、軍工國防等。
1:工業(yè)CT掃描分析
不破壞零件的前提下重建零件從內(nèi)而外的完整三維模型;材料缺陷分析、失效形式分析、幾何與形位公差測量及裝配正確性。
應(yīng)用范圍:電子元器件、高精密元器件、PCB/PCBA等。
工業(yè)CT檢測應(yīng)用項目:缺陷分析、尺寸測量、CAD數(shù)模比對
2:3D X-Ray檢測
對于樣品無法以外觀方式檢測的位置,利用紀(jì)錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強度的變化,產(chǎn)生的對比效果可形成影像即可顯示出待測物之內(nèi)部
結(jié)構(gòu),進而可在不破壞待測物的情況下觀察待測物內(nèi)部有問題的區(qū)域。
應(yīng)用范圍:金屬材料及零部件、塑膠材料及零部件、電子元器件、電子組件、LED元件等內(nèi)部的裂紋、異物的缺陷檢測,BGA、線路板等內(nèi)部位移
的分析;判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷,微電子系統(tǒng)和膠封元件,電纜,裝具,塑料件內(nèi)部情況分析等。
3:超聲波掃描(C-SAM)
無損檢測電子元器件、LED、金屬基板的分層、裂紋等缺陷(裂紋、分層、空洞等);通過圖像對比度判別材料內(nèi)部聲阻抗差異、確定缺陷形狀和
尺寸、確定缺陷方位。
應(yīng)用范圍:塑料封裝IC、晶片、PCB、LED等。
樣品要求
CT:一般要求樣品尺寸不大于50mmx50mm。
X—Ray:不大于300mmx300mm
C-SAM:無特殊要求
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